Conferencia.

"El impacto de la Metrología en el Laboratorio Ibérico Internacional de Nanotecnología (INL)"

• Dr. José Rivas Rey.

Catedrático de Electromagnetismo. Universidad de Santiago de Compostela. Director General del INL.

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Mesa redonda.

Moderador:

• D. Ignacio Atorrasagasti Tellería.

Subdirector General de Programas Internacionales. Ministerio de Ciencia e Innovación.

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Ponentes:

• Dr. Rodolfo Miranda.

Catedrático de Física de la Materia Condensada. Director de IMDEA-Nanociencia. Universidad Autónoma de Madrid.

• Dr. Ricardo Ibarra García.

Catedrático de Física de la Materia Condensada. Director del Instituto de Nanociencia de Aragón. Universidad de Zaragoza.

• Dr. Jordi Pascual.

Catedrático de Física Aplicada. Universidad Autónoma de Barcelona. Director de l'Institut Català de Nanotecnología (ICN)

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• Dr. Emilio Prieto Esteban.

Jefe del Área de Longitud. Centro Español de Metrología.

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• Dr. José Luis Ocaña Moreno.

Catedrático de Ingeniería Mecánica. Director del Centro Láser UPM. Universidad Politécnica de Madrid.

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